Elemento óptico único combina imagens de raios X suaves e espectroscopia

Adicionar às fontes preferenciais 3 N 4 (a) e dispersão elástica de Au (b). Imagens reconstruídas de figuras geométricas para o sinal inelástico do Si 3 N 4 (a) e espalhamento elástico do Au (b).

Uma equipe de pesquisa internacional da Alemanha, Suíça e Japão demonstrou em um estudo recente que uma única placa de zona de reflexão (RZP) pode realizar imagens de raios X suaves e mapeamento de espalhamento inelástico ressonante de raios X (RIXS). O estudo, publicado na Optics Express, foi realizado na linha de luz P04 da fonte de radiação síncrotron PETRA III no DESY em Hamburgo.

O método resolveu estruturas com resolução espacial de aproximadamente 14, 24 μm. Para objetos circulares, a abordagem de varredura linear foi cerca de 27 vezes mais rápida do que uma varredura bidimensional convencional ponto a ponto realizada com amostragem espacial comparável.

Antes deste estudo, pensava-se que tal trabalho não seria possível devido à condição senoidal de Abbe, formulada pelo cientista alemão Ernst Abbe no século XIX. A medição cobriu energias de fótons emitidos de 388, 6 a 401, 8 eV e resolveu características inelásticas, vibracionais e elásticas próximas à borda K do nitrogênio.

A resolução espectral estimada foi de ~ 0, 3 eV, dependendo da energia incidente e dos fótons emitidos. O conjunto completo de dados foi coletado em cerca de 220 segundos, muito mais rápido do que nas abordagens convencionais.

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